光缆线路光表接入光测试仪表
VIAVI MAP-200 mORL/mIL 插损/回损测试解决方案
光连接解决方案(光连接器、结构化布线、分路器及其机壳)对于连接密集型中心局、数据中心和光分配网络至关重要。在远程通信、数据通信、无线回传和FTTx之外,在海洋、航空电子和军事应用继续大幅增加的同时,新式超级计算应用也在不断涌现。所有这些市场都是由更高的带宽要求推动的。出于必要,市场上不断推出新的连接器规格,这是由降低安装成本、加快部署的需求推动的。
但这些连接点的质量和光性能往往被忽视。插损和回损(IL和RL)不佳可能会对网络性能造成深远影响。性能不佳会直接影响接入和可靠性,甚至会阻碍技术升级之路。同时,经济因素也要求制造商继续降低成本、加快生产并缩短上市时间。
主要优点
• 使生产效率增加4倍
• 所需空间为其他测试平台的25%
• 可扩展至高成长性、高性能新应用,例如40/100 G数据中心市场
• 模块化平台可根据需要在预算允许范围内扩展
• 通过端口映射在15秒以内验证多芯光纤MPO组件的连通性及双向性能
• 完全支持快速增长的MPO和MTP多光纤连接器的测试
应用
• 对光连接器和光缆组件、结构化布线解决方案和光分路器的插损/回损/长度进行测试
• 对多芯光纤组件(例如MPO)进行自动测试
• 单模和多模光纤测试解决方案
• 对大型多芯光纤组件的连通及双向性能指标进行验证